科學(xué)研究工作對(duì)精密儀器的應(yīng)用是無處不在的，但如今可選擇儀器的功能類型不在少數(shù)，如果沒有清晰的思路和明確的標(biāo)準(zhǔn)，自然也就無法確保優(yōu)勢(shì)作用發(fā)揮到極致，反觀FIB-SEM儀器的合理使用，則對(duì)樣品和材料在高度局部表征的新挑戰(zhàn)面前，有著迎刃而解的能力和實(shí)力。既然已經(jīng)從不同角度印證了電鏡工具的功能實(shí)用性，用來改善樣品材料的分析效果，想必會(huì)對(duì)結(jié)果的改善卓有成效，關(guān)鍵是能夠在不同應(yīng)用場(chǎng)景中體現(xiàn)出同樣優(yōu)越的成效。
不可否認(rèn)，電鏡工具對(duì)自動(dòng)結(jié)構(gòu)分析以及納米原型設(shè)計(jì)極具實(shí)用價(jià)值，在諸多成功應(yīng)用案例中，包括
FIB-SEM在內(nèi)的精密儀器，都是憑借卓越的性能得到了充分肯定。雖然電鏡工具的功能類型和規(guī)格型號(hào)各不相同，但是在實(shí)際應(yīng)用中只要功能匹配度有所保障，對(duì)于分析結(jié)果來說都是能夠提高可信度的，同時(shí)對(duì)于分析應(yīng)用的計(jì)劃制定也要足夠縝密。
當(dāng)然，投射電鏡的功能實(shí)用性相對(duì)更強(qiáng)，可以為材料科學(xué)的快速和精確應(yīng)用奠定堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)，以此作為依托構(gòu)建的應(yīng)用機(jī)制，自然會(huì)對(duì)
掃描透射電子顯微鏡的充分利用起到很好的輔助作用。既然電鏡工具的功能優(yōu)勢(shì)已經(jīng)直觀呈現(xiàn)，面對(duì)嚴(yán)峻挑戰(zhàn)，用來妥善化解也就成為了必然趨勢(shì)，相信這對(duì)大部分的應(yīng)用需求來說都是可以充分滿足的。
由此作為參考不難看出，透射電鏡對(duì)材料科學(xué)的應(yīng)用效果尤為明顯，復(fù)雜的應(yīng)用環(huán)境中，充分發(fā)揮
SEM電子顯微鏡的性能優(yōu)勢(shì)，對(duì)于妥善解決應(yīng)用難題會(huì)取得事半功倍的效果。既然已經(jīng)認(rèn)識(shí)到了透射電鏡的實(shí)用價(jià)值，結(jié)合材料科學(xué)領(lǐng)域具體的應(yīng)用條件，靈活調(diào)整電鏡工具的配置策略也就會(huì)更有效果。
